可靠性信息
半导体可靠性手册
No. BDE0128C (2007年8月)
点击每一章节标题查看具体文档。
- [1] 东芝质量和可靠性体系 (PDF:315KB)
-
- 东芝半导体质量和可靠性
- 文档管理
- 教育和培训
- 技术规格和质量保证协议
- 从产品开发到设计过程中的质量和可靠性
- 零部件、材料和加工委托管理
- 生产过程管理
- 识别和可追踪性
- 测量控制
- 质量服务活动
- 质量监察
- 产品的出货质量保证
- 出货检查后的产品管理
- 异常时的处置体制
- 统计性质量管理
- 投诉服务
- [2] 半导体的可靠性 (PDF:763KB)
-
- 可靠性的基本理念
- 影响可靠性的因素
- 故障机制
- [3] 可靠性测试 (PDF:580KB)
-
- 什么是可靠性测试
- 加速后的终身测试
- 故障率测试的方法
- 可靠性测试的详细应用方法
- [4] 故障分析和可靠性提高 (PDF:3,551KB)
-
- 故障分析的意义
- 故障分析中使用的装置
- 故障分析程序
- 故障分析事例
- 故障分析和可靠性提高方法
- [5]使用上的注意事项和要求 (PDF:544KB)
-
- 使用半导体产品时的注意事项
- 安全方面的注意事项
- 一般的安全注意事项以及使用上的注意事项
- 各产品群特有的注意事项以及使用上的注意事项
- [6] 附录 (PDF:289KB)
-
- 抽样检查
- 可靠性估算
- 减额法的概念和方法
